Messbare Substrate | Fe, NFe |
Sonde | intern |
Messbereich | 0 … 1500 µm |
Auflösung | 0,1 µm (im Messbereich 0 … 99,9 µm) |
1 µm (im Messbereich 100 … 1500 µm) | |
Genauigkeit | ±(1 µm + 2% von der Schichtdicke) |
Einheiten | µm, mil |
Kleinste Krümmung | konvex 5 mm, konkav 5 mm |
Kleinste Messfläche | 10 x 10 mm |
Mindestdicke des Substrats | 0,4 mm |
Schnittstelle | Bluetooth, Micro-USB |
Speicherplatz | 10 Gruppen mit jeweils 60 Messwerten |
Spannungsversorgung | 2 x 1,5 V AA Batterie, 5 V USB Schnittstelle |
Umgebungsbedingungen | -10 … 50 °C, 10 … 85 % r.F. |
Abmessungen | 126 x 69 x 35 mm (ohne Sensor) |
Gewicht | ca. 97 g (ohne Batterien) |
Zertifikat, z.B. zum Einhalten Ihrer DIN ISO 9000. Hierzu senden wir das Schichtdickenmessgerät in ein unabhängiges Kalibrierlabor. Die Messwerte, die Seriennummer und Sie als Auftraggeber werden in diesem ISO Zertifikat festgehalten.
Kalibrierzertifikate werden speziell für den Kunden ausgestellt und sind vom Rückgaberecht ausgeschlossen.