Miernik grubości powłoki LM-MCDX-7F

Grubościomierz LM-MCDX-7F

Numer zamówienia: LM-MCDX-7F
GTIN (EAN): 4262539311101
5.271,00 zł
6.483,33 zł
Cena netto (nie zawiera kosztów dostawy)
:
4262539311101
LM-MCDX-7F
Czas dostawy:1-2 dni

Opis

Miernik grubości powłoki do podłoża Fe / Sonda z prowadnicą sprężynową i pryzmatem / Min. pow. pomiarowa: Fe Ø 4 mm / Stopień ochrony IP64 / Zasilanie bateryjne lub zasilacz zewnętrzny (USB) / Fabryczny certyfikat kalibracji ISO

Proponowany miernik grubości powłoki wyposażony jest w unikalną, sprężynową sondę zewnętrzną, która wykorzystuje metodę indukcji magnetycznej do wykonywania pomiaru grubych warstw farb, lakierów, tworzyw sztucznych, gumy, ceramiki, powłok cynkowych oraz powłok galwanicznych na podłożach ferromagnetycznych (stal i żelazo) , dodatkowo do urządzenia jakim jest miernik grubości powłoki można podłączyć, w zależności od potrzeb użytkownika, inne specjalistyczne sondy cyfrowe. Dzięki urządzeniu jakim jest miernik grubości powłoki wykonamy pomiar pojedynczy, pomiar skanujący przeznaczony do pomiaru powierzchni chropowatych.

Nowo opracowana technologia sondy cyfrowej, w którą wyposażony jest miernik grubości powłoki, dzięki wysokiej częstotliwości próbkowania, umożliwia uzyskanie wyjątkowo stabilnych wartości pomiarowych. W celu zapewnienia bezzakłóceniowego i precyzyjnego pomiaru wykonywanego przez miernik grubości powłoki, sygnały pomiarowe są digitalizowane bezpośrednio w sondzie, co zapewnia wyjątkowo dokładne i powtarzalne wyniki.

Miernik grubości powłoki wyposażony jest w graficzny panel dotykowy LCD z innowacyjnym interfejsem użytkownika i rozdzielczością 320 × 480 pikseli. Menu urządzenia jakim jest miernik grubości powłoki standardowo dostępne jest w języku niemieckim i angielskim, a dodatkowe pakiety językowe dostępne są za dopłatą. Ochronna silikonowa ramka niezawodnie chroni obudowę urządzenia typu miernik grubości powłoki przed czynnikami zewnętrznymi IP64.

Elastycznie zaprojektowana pamięć wartości pomiarowych i dowolnie definiowane konfiguracje kalibracji oferują szeroki zakres możliwości dla indywidualnego gromadzenia danych pomiarowych jakie wykonuje miernik grubości powłoki. Zmierzone wartości można przesyłać bezpośrednio do urządzeń z systemem Windows, Android lub iOS za pośrednictwem interfejsu bezprzewodowego. Zintegrowany interfejs SCPI umożliwia zdalną obsługę urządzenia jakim jest miernik grubości powłoki, w trybie liniowym. Połączenie odbywa się przez USB, które zapewnia również zasilanie i umożliwia ciągłą pracę oferowanego urządzenia typu miernik grubości powłoki.

Miernik grubości powłoki dzięki zintegrowanej funkcji skanowania umożliwia skanowanie chropowatych powierzchni i późniejszą analizę statystyczną wyniku pomiarowego. Analogowy wyświetlacz słupkowy uzupełnia numeryczne wartości pomiarowe i umożliwia szybkie wykrywanie trendów lub odchyleń. Funkcja dupleksowa umożliwia jednoczesny pomiar grubości poszczególnych warstw powłok izolacyjnych na stali ocynkowanej (tylko w połączeniu z sondami DX52-D lub DX52-DP).

Zasilanie urządzenia typu miernik grubości powłoki odbywa się za pomocą trzech baterii AA lub zewnętrznego źródła USB, co umożliwia również pracę z zasilaczem lub powerbankiem.


Najważniejsze cechy

- Podłoże ferromagnetyczne (Fe)
- Zgodność z normą ISO 2178 (Fe)
- Dokładność: ≤ 100 µm: ± 1 µm / ≤ 1.000 µm: ± 1 % / ≤ 2.000 µm: ± 3 % / ≤ 5.000 µm: ± 5 %
- Rozdzielczość: ≤ 100 μm: 0,1 μm / ≤ 1.000 μm: 1 μm / ˃ 1.000 µm: 10 μm
- Min. pow. pomiarowa Fe: Ø 4 mm
- Min. promień krzywizny wypukłej Fe: 4 mm
- Min. promień krzywizny wklęsłej Fe: 38 mm
- Sonda z prowadnicą sprężynową i pryzmatem
- Wymienna sonda
- Pomiar grubych warstw
- Bezprzewodowy interfejs dla systemów Windows, iOS i Android
- Zasilanie bateryjne 3 x 1,5 V AA lub zasilacz zewnętrzny przez USB
- Stopień ochrony IP64
- Fabryczny certyfikat kalibracji ISO w zestawie

Specyfikacja

Grubość warstw 
Zakres pomiarowy do  2 ... 100 µm
Rozdzielczość  0,1 µm
Dokładność  ± 1 µm
  
Grubość warstw 
Zakres pomiarowy do  100 ... 1000 µm
Rozdzielczość  1 µm
Dokładność  ± 1 %
  
Grubość warstw 
Zakres pomiarowy do  1000 ... 2000 µm
Rozdzielczość  10 µm
Dokładność  ± 3 %
  
Grubość warstw 
Zakres pomiarowy do  2000 ... 7000 µm
Rozdzielczość  10 µm
Dokładność  ± 5 %
  
Czujnik 
Nazwa  DX7-F
Typ baterii  Podłoże ferromagnetyczne (Fe)
Rodzaj badanego materiału  Pomiar powłok farby, lakieru, tworzywa sztucznego i powłok galwanicznych na stali.
Min. powierzchnia pomiarowa   Ø 4 mm
Min. promień krzywizny wypukłej  4 mm
Min. promień krzywizny wklęsłej  38 mm
Opis dodatkowy  Sonda FE do grubych powłok z tuleją przesuwną i pryzmatem
  
Ogólne dane techniczne 
Funkcje pomiarowe  Ilość, MAX, MIN, Wartość średnia, Odchylenie standardowe
Jednostka  µm, promile
Typ wyświetlacza  Ekran dotykowy LCD
Rozdzielczość wyświetlacza  320 x 480 pikseli
Nośnik pamięci  Pamięć wewnętrzna
Pojemność pamięci  10000 Pomiary
Interfejs  USB, SCPI
Normy  ISO 2178, ISO 2360, BS 5411, ASTM
Czas pracy  25 h
Czas pracy / informacje dodatkowe  Przy zewnętrznym źródle zasilania – bez ograniczeń
Automatyczne wyłączanie od...do  5 ... 30 min.
Automatyczne wyłączanie - możliwa dezaktywacja  Tak
Język menu  Niemiecki, Angielski (GB), Angielski (USA), Włoski, Francuski, Hiszpański
Klasa ochrony urządzenia  IP64
Zasilanie  3 x 1,5 V bateria AA lub 5 V przez USB
Akumulator / Bateria  3 x 1,5 V Bateria AA , Alkaliczno - Manganowa
Pojemność  3000 mAh
Warunki pracy  0 ... 50 °C , 10 ... 90 % RH
Warunki przechowywania  0 ... 50 °C , 10 ... 90 % RH
Wymiary ( D x S x W )  150 x 85 x 35 mm
Waga  251 g

Zakres dostawy

1 x Miernik grubości powłoki LM-MCDX-7F
1 x Sonda pomiarowa DX7-F
1 x Przewód sondy
1 x Płytka bazowa Fe
2 x Folia kalibracyjna Fe
1 x Futerał transportowy
1 x Instrukcja obsługi
1 x Fabryczny certyfikat kalibracji ISO
Oprogramowanie Lima Connect na komputer dostępne na naszej stronie internetowej
Aplikacja „Lima Connect” dostępna w sklepie play lub App Store

Dokumenty / Pliki