| Zakres pomiarowy | 0 ... 1250 µm |
| Min Grubość warstwy materiału podstawowego | 50 µm |
| Najmniejszy pomiar powierzchnia (średnica) | 10mm |
| Min. Promień krzywizny wypukły | 15 mm |
| Min. Promień krzywizny wklęsłej | 15 mm |
| Dokładność | ±(1 % + 1 µm) |
| Rozdzielczość | 0,1 µm (<99,9 µm) |
| 1 µm (>100 µm) | |
| Metoda kalibracji | jednopunktowy, wielopunktowy |
| przechowywanie danych | 5 grupy pamięci z 252 miejscami w pamięci każda |
| Tryby pomiaru | Pomiary indywidualne , pomiar ciągły |
| Interfejsy | Wi-Fi, USB |
| Warunki pracy | 0 ... 50 °C, 20 ... 90 % wilgotności względnej bez kondensacji |
| Wymiary | 170 x 85 x 35 mm |
| Waga | ok. 335 g (z baterią) |