Overflademetrologi er et bærbart måleinstrument til bestemmelse af ruhedsdybden efter Ra, Rz, Rq og Rt i én og samme enhed. Den kompakte overflademetrologi er udviklet specielt til hurtig måling af overfladeruhed. Ruhed er et begreb inden for overfladefysik, der beskriver ujævnheder i overfladens højde. Overflademetrologi fungerer efter samme piezoelektriske mikrofølerprincip som de meget præcise laboratoriemåleinstrumenter.

Den enkle betjening af overflademetrologi samt den høje gentagelsesnøjagtighed gør denne enhed særlig velegnet. Når der trykkes på knappen, scanner den piezoelektriske mikroføler overfladen på få sekunder. Derefter viser instrumentet straks den valgte værdi, Ra, Rz, Rq eller Rt, digitalt i henhold til den forudindstillede grænsebølgelængde (cut-off-længde).

Rz = middelruhedsdybde
Den gennemsnitlige ruhedsdybde Rz er det aritmetiske gennemsnit af de største individuelle ruhedsdybder på flere sammenhængende individuelle målestrækninger.

Ra = aritmetisk middelruhedsværdi
Ra er den almindeligt anerkendte og internationalt anvendte ruhedsparameter. Den er det aritmetiske gennemsnit af profilafvigelsernes absolutte værdier inden for referencelængden. Den målte talværdi Ra er altid mindre end den Rz-værdi, der er bestemt på den samme ruhedsprofil.

Rt = maksimal ruhedsdybde
Den maksimale ruhedsdybde Rt er afstanden mellem det højeste og det laveste punkt på målestrækningen.

Rq = kvadratisk middelruhedsværdi
Rq er kvadratroden af middelværdien af alle ordinatværdier inden for den individuelle målestrækning l. Rq svarer til betegnelsen RMS (Root Mean Square).