Grubościomierz powłok metali żelaznych i nieżelaznych / Wysoka dokładność pomiaru ± 1 % + 1 µm / Dwie sondy w zestawie
Pamięć wewnętrzna na 1250 pomiarów / Interfejs USB-A oraz WiFi / Oprogramowanie komputerowe do pobrania
Grubościomierz powłoki jest to urządzenie służące do wykonywania pomiarów grubości powłoki nieferromagnetycznej. Do ich wykonywania grubościomierz wykorzystuje zasadę indukcji magnetycznej – pomiar grubości powłoki typu: lakier, farba, emalia, tworzywa sztuczne, powłoki gumy na podłożach stali i żelaza – zgodnie z normą ISO 2178 oraz zasadę prądów wirowych – pomiar grubości powłoki izolacyjnej typu: farba, plastik czy emalia na podłożach metalowych – zgodnie z normą ISO 2360.
Urządzenie jakim jest grubościomierz powłoki wyposażony jest w dwie wymienne sondy pomiarowe, z których jedna służy do pomiaru powłoki na podłożach metalowych ferromagnetycznych (Fe), natomiast druga do badania warstwy izolacyjnej na podłożach metalowych nieferromagnetycznych (NFe). Dzięki sondom zewnętrznym grubościomierz powłoki może wykonać pomiar grubości, także w miejscach trudnodostępnych, w sposób nieniszczący, szybki oraz precyzyjny.
Grubościomierz powłoki wyposażony jest w pamięć wewnętrzną przechowującą do 500 wartości pomiarowych, a wykonywanie pomiarów ułatwia podświetlany wyświetlacz LCD oraz podświetlana klawiatura. Natomiast dzięki interfejsowi USB można łatwo przesłać dane do komputera.
Proponowany przez nas grubościomierz powłoki wykona zarówno pojedyncze pomiary jaki i całą serię dzięki czemu możemy go wykorzystać min. w przemyśle wykończeniowym, galwanicznym, przy budowie statków i mostów oraz przemyśle maszynowym i chemicznym.
Metoda pomiaru | Indukcji magnetyczna (Fe) Prądy wirowe (NFe) |
Rodzaj badanej powłoki | Nieferromagnetyczne |
Podłoże badanej powłoki: | Podłoże ferromagnetyczne (Fe) Podłoże nieferromagnetyczne (NFe) |
Typ sondy | Zewnetrzna, wymienna Rowek V |
Zakres pomiarowy | 0 … 1250 µm |
Rozdzielczość | 0,1 µm (w zakresie 0 ... 100 μm) 1 μm (w zakresie >100 μm) |
Dokładność pomiaru | ± 1% + 1 μm |
Jednostka pomiarowa | µm, mil |
Min. promień krzywizny wypukłej | 15 mm |
Min. promień krzywizny wklęsłej | 15 mm |
Średnica podstawy docisku | Sonda N1 Ø 16 mm Sonda F1 Ø 11 mm |
Średnica pow. pomiarowej | Sonda N1 Ø 14 mm Sonda F1 Ø 9 mm |
Min. grubość podłoża | 0,5 mm |
Wyświetlacz | Graficzny LCD |
Język menu | Angielski |
Pamięć wewnętrzna | na 1250 pomiarów |
Interfejs komunikacyjny | Port USB-A (na pendrivera) Wi-Fi |
Oprogramowanie | Program komputerowy (do darmowego pobrania) |
Zasilanie | 2 x bateria 1,5 V AA |
Automatyczne wyłączenie | po 5 min. braku aktywności (możliwość wyłączenia) |
Temperatura pracy | 0 ... +50 °C |
Wilgotność | 20 … 90 % r.F. |
Wymiary | 170 x 85 x 35 mm |
Waga | 335 g |