De microscoop PCE-IDM 3D is uitgerust met een eigen bedienersinterface, waarbij verscheidene analysefuncties ter beschikking staan. De livebeelden en de data van de bedienersinterface worden samen via de VGA aansluiting overgedragen naar een aangesloten monitor. 

- 3D-rotatie 360°

- vergroting: 0,3 ... 2,2 -voudig

- beeldformaat 1920 x 1080 Full HD

- focusbereik: 250 mm

De werkplaatsmicroscoop PCE-IDM 3D is uitgerust met een eigen bedienersinterface, waarbij verscheidene analysefuncties ter beschikking staan. De livebeelden en de data van de bedienersinterface worden samen via de VGA aansluiting overgedragen naar een aangesloten monitor. 

- 3D-rotatie 360°

- vergroting: 0,3 ... 2,2 -voudig

- beeldformaat 1920 x 1080 Full HD

- focusbereik: 250 mm

De laboratorium microscoop PCE-IDM 3D is uitgerust met een eigen bedienersinterface, waarbij verscheidene analysefuncties ter beschikking staan. De livebeelden en de data van de bedienersinterface worden samen via de VGA aansluiting overgedragen naar een aangesloten monitor. 

- 3D-rotatie 360°

- vergroting: 0,3 ... 2,2 -voudig

- beeldformaat 1920 x 1080 Full HD

- focusbereik: 250 mm

Deze universele Dynamometer is ontworpen voor kracht-afstand (werk) metingen of een constante krachtmeting. Daarom meet de universele krachtmeter tot een waarde van 5000 N. De universele Dynamometer ZPM wordt primair bestuurd via een microprocessor.

- Meetbereik: max. 50 ... 5000N (afhankelijk van het model) 

- Laadcel: beter dan 0,03% 

- Display: twee-regelig LCD 

- Verschillende meetbereiken kunnen worden geselecteerd!

Deze universele krachtmeter is ontworpen voor kracht-afstand (werk) metingen of een constante krachtmeting. Daarom meet de universele krachtmeter tot een waarde van 5000 N. De universele krachtmeter ZPM wordt primair bestuurd via een microprocessor.

- Meetbereik: max. 50 ... 5000N (afhankelijk van het model) 

- Laadcel: beter dan 0,03% 

- Hysteresis: ± 0.02 van max. nominale belasting 

- Verschillende meetbereiken kunnen worden geselecteerd!

De Heftruck weegschaal bestaat uit twee vorken met een geïntegreerd weegsysteem tot 5000 kg en een resolutie van 5/ 10 kg. Met de heftruck weegschaal LTF1150ARM kunnen de voorvorken van een heftruck vervangen worden. De heftruck weegschaal beschikt over twee displays en is uitgerust met 4 weegcellen. 

-Weegbereik: 2500 / 5000 kg

-Resolutie/ijkwaarde: 5/ 10 kg

-Nauwkeurigheid: ± 0,2 % van het weegbereik 

-Vorkplaten DIN 15173-FEM Klasse IIA

-Incl. eerste ijking MIII

-Printer optioneel, niet in leveromvang

Deze universele materiaal testopstelling is ontworpen voor kracht-afstand (werk) metingen of een constante krachtmeting. Daarom meet de materiaal testopstelling tot een waarde van 5000 N. De universele krachtmeter ZPM wordt primair bestuurd via een microprocessor.

- Meetbereik: max. 50 ... 5000N (afhankelijk van het model) 

- Laadcel: beter dan 0,03% 

- Hysteresis: ± 0.02 van max. nominale belasting 

- Verschillende meetbereiken kunnen worden geselecteerd!

De colorimeter PCE-CSM 4 is een speciaal ontwikkeld meetinstrument voor de kwaliteitscontrole en beschikt over een hoge nauwkeurigheid. De colorimeter is in staat om metingen uit te voeren in verschillende kleurruimten (CIEL a*b*C*h, CIEL a*b* en CIEXYZ). Na een meting kan het meetresultaat dienen als referentiewaarde voor de navolgende samplemetingen.  

De Heftruck weegschaal bestaat uit twee vorken met een geïntegreerd weegsysteem tot 5000 kg en een resolutie van 2 / 5/ 10 kg. Met de heftruck weegschaal LTF1150AR kunnen de voorvorken van een heftruck vervangen worden. De heftruck weegschaal beschikt over twee displays en is uitgerust met 4 weegcellen. 

-Weegbereik: 1000 / 2500 / 5000 kg

-Resolutie/ijkwaarde: 2 / 5/ 10 kg

-Nauwkeurigheid: ± 0,2 % van het weegbereik 

-Vorkplaten DIN 15173-FEM Klasse IIA

De kleurmeter PCE-CSM 2 is een speciaal ontwikkeld meetinstrument voor de kwaliteitscontrole en beschikt over een hoge nauwkeurigheid. De kleurmeter is in staat om metingen uit te voeren in verschillende keurruimten (CIEL a*b*C*h, CIEL a*b* en CIEXYZ). Na een meting kan het meetresultaat dienen als referentiewaarde voor de navolgende samplemetingen.