Yüzey Ölçüm Cihazı PCE-GM 55
3 ölçüm açılı / 20°, 45° ve 75° / Orta ve yüksek parlaklık için / Arayüz ve yazılım / Lityum iyon pil
Yüzey ölçüm cihazı PCE-GM 55, 20°, 45° ve 75° olmak üzere 3 açılı bir ölçüm cihazıdır. Böylece, yüzey ölçüm cihazı, yüksek parlaklık ve orta parlaklık aralığındaki parlaklık ölçümleri için kullanılabilir. Yüzey ölçüm cihazının 75°’lik özel ölçüm açısı, kağıt ve dokuma kumaş üzerindeki parlaklık derecesinin ölçülmesini sağlar. Yüzey ölçüm cihazı, ASTM, DIN ve EN ISO standartlarına dayanır. Yüzey ölçüm cihazının ölçüm aralığı 0 … 200 GU arasındadır.
Yüzey ölçüm cihazı ile parlaklık seviyesi ölçümü, ölçülecek yüzeyden gelen ışığın yansıması ile gerçekleştirilir. Parlaklık seviyesi devamlı olarak ölçülürek yüzey ölçüm cihazının LCD ekranında görüntülenir. Ölçüm değerleri, entegre arayüz aracılığıyla yüzey ölçüm cihazından bilgisayara aktarılabilir. Yüzey ölçüm cihazı, lityum iyon pil ile kullanılır ve 5 V güç adaptörü ile şarj edilebilir.
Ölçüm Açısı | 20°, 45°, 75° | |
Ölçüm Aralığı | 0 … 200 GU | |
Çözünürlük | 0.1 GU | |
Hassasiyet | ±1 GU (referans standardına göre) | |
Tekrarlanabilirlik | ± 0.5 GU (0 … 99.9 GU) | |
Ölçüm Alanı | 7 x 14 mm (eliptik) | |
Hafıza | 254 ölçüm noktası | |
Arayüz | Seri | |
Çevre Koşulları | 0 ... 40 °C, maks. %85 n.o. | |
Güç Kaynağı | Lityum iyon pil | |
Boyut | 140 x 45 x 75 mm | |
Ağırlık | 305 g |