Glossmetre PCE-IGM 100, yüzey parlaklığını ölçmek için kullanılan bir cihazdır. Glossmetre ile yüzeye çarpan bir ışık demetinin spektral yansımaları ölçülür. Glossmetrenin dokunmatik ekranı kolay navigasyon sağlar. Glossmetre, özellikle yüzeylerin aynı yapıya ve dolayısıyla aynı yüzey özelliklerine sahip olmasını gerektiren kalite kontrol gibi alanlarda kullanılır. Bu nedenle de pek çok farklı şirket tarafından kullanılabilen bir cihazdır.
- Ölçüm geometrileri: 20° / 60° / 85°
- Ölçüm aralığı: 20°: 0 … 1000 GU / 60°: 0 … 1000 GU / 85°: 0 … 160 GU
- Standartlar: ISO 2813 / GB /T 9754 / ASTM D 523 / ASTM D 2457
- Işık kaynağı: D65
- Dalga boyu: 400 – 700 nm
NDT ölçüm cihazı PCE-IGM 100, yüzey parlaklığını ölçmek için kullanılan bir cihazdır. NDT ölçüm cihazı ile yüzeye çarpan bir ışık demetinin spektral yansımaları ölçülür. NDT ölçüm cihazının dokunmatik ekranı kolay navigasyon sağlar. NDT ölçüm cihazı, özellikle yüzeylerin aynı yapıya ve dolayısıyla aynı yüzey özelliklerine sahip olmasını gerektiren kalite kontrol gibi alanlarda kullanılır. Bu nedenle de pek çok farklı şirket tarafından kullanılabilen bir cihazdır.
- Ölçüm geometrileri: 20° / 60° / 85°
- Ölçüm aralığı: 20°: 0 … 1000 GU / 60°: 0 … 1000 GU / 85°: 0 … 160 GU
- Standartlar: ISO 2813 / GB /T 9754 / ASTM D 523 / ASTM D 2457
- Işık kaynağı: D65
- Dalga boyu: 400 – 700 nm
Parlaklık ölçüm cihazı PCE-IGM 100, yüzey parlaklığını ölçmek için kullanılan bir cihazdır. Parlaklık ölçüm cihazı ile yüzeye çarpan bir ışık demetinin spektral yansımaları ölçülür. Parlaklık ölçüm cihazı dokunmatik ekranı kolay navigasyon sağlar. Parlaklık ölçüm cihazının, özellikle yüzeylerin aynı yapıya ve dolayısıyla aynı yüzey özelliklerine sahip olmasını gerektiren kalite kontrol gibi alanlarda kullanılır. Bu nedenle de pek çok farklı şirket tarafından kullanılabilen bir cihazdır.
- Ölçüm geometrileri: 20° / 60° / 85°
- Ölçüm aralığı: 20°: 0 … 1000 GU / 60°: 0 … 1000 GU / 85°: 0 … 160 GU
- Standartlar: ISO 2813 / GB /T 9754 / ASTM D 523 / ASTM D 2457
- Işık kaynağı: D65
- Dalga boyu: 400 – 700 nm
Yüzey ölçüm cihazı PCE-IGM 100, yüzey parlaklığını ölçmek için kullanılan bir cihazdır. Yüzey ölçüm cihazı ile yüzeye çarpan bir ışık demetinin spektral yansımaları ölçülür. Yüzey ölçüm cihazının dokunmatik ekranı kolay navigasyon sağlar. Yüzey ölçüm cihazı, özellikle yüzeylerin aynı yapıya ve dolayısıyla aynı yüzey özelliklerine sahip olmasını gerektiren kalite kontrol gibi alanlarda kullanılır. Bu nedenle de pek çok farklı şirket tarafından kullanılabilen bir cihazdır.
- Ölçüm geometrileri: 20° / 60° / 85°
- Ölçüm aralığı: 20°: 0 … 1000 GU / 60°: 0 … 1000 GU / 85°: 0 … 160 GU
- Standartlar: ISO 2813 / GB /T 9754 / ASTM D 523 / ASTM D 2457
- Işık kaynağı: D65
- Dalga boyu: 400 – 700 nm
Data logger PCE-432, IEC 60651:1979, IEC 60804:2000, IEC 61672-1:2013, ANSI S1.4-1983 and ANSI S1.43-1997 standartlarına uygun Sınıf 1 bir cihazdır. Taşınabilir ve yüksek hassasiyetli cihazın ölçüm verilerinin tam coğrafi konumuna atanmasını sağlayan GPS fonksiyonu bulunur.
- Ölçüm aralığı: 22 … 136 db (A)
- LXY (SPL), Leq (LXeq), LXYSD, LXSEL, LXE, LXYmax, LXYmin, LXPeak, LXN
- Frekans ağırlıklandırması: A, B, C ve Z
- Zaman ağırlıklandırması: Hızlı (125 ms), yavaş (1 sn) ve darbe (35 ms), iniş (1500 ms)
- Konum belirlemesi için GPS alıcısı
- 1 s … 24 saat arasında ayarlanabilir veri kaydetme aralığı
- 1/1 oktav band filtresi (opsiyonel 1/3 oktav band filtresi yükseltilebilir)
- ISO Kalibrasyon Sertifikası
Desibelmetre PCE-432, IEC 60651:1979, IEC 60804:2000, IEC 61672-1:2013, ANSI S1.4-1983 and ANSI S1.43-1997 standartlarına uygun Sınıf 1 bir cihazdır. Taşınabilir ve yüksek hassasiyetli cihazın ölçüm verilerinin tam coğrafi konumuna atanmasını sağlayan GPS fonksiyonu bulunur.
- Ölçüm aralığı: 22 … 136 db (A)
- LXY (SPL), Leq (LXeq), LXYSD, LXSEL, LXE, LXYmax, LXYmin, LXPeak, LXN
- Frekans ağırlıklandırması: A, B, C ve Z
- Zaman ağırlıklandırması: Hızlı (125 ms), yavaş (1 sn) ve darbe (35 ms), iniş (1500 ms)
- Konum belirlemesi için GPS alıcısı
- 1 s … 24 saat arasında ayarlanabilir veri kaydetme aralığı
- 1/1 oktav band filtresi (opsiyonel 1/3 oktav band filtresi yükseltilebilir)
- ISO Kaibrasyon Sertifikası
Gürültü ölçüm cihazı PCE-432, IEC 60651:1979, IEC 60804:2000, IEC 61672-1:2013, ANSI S1.4-1983 and ANSI S1.43-1997 standartlarına uygun Sınıf 1 bir cihazdır. Taşınabilir ve yüksek hassasiyetli cihazın ölçüm verilerinin tam coğrafi konumuna atanmasını sağlayan GPS fonksiyonu bulunur.
- Ölçüm aralığı: 22 … 136 db (A)
- LXY (SPL), Leq (LXeq), LXYSD, LXSEL, LXE, LXYmax, LXYmin, LXPeak, LXN
- Frekans ağırlıklandırması: A, B, C ve Z
- Zaman ağırlıklandırması: Hızlı (125 ms), yavaş (1 sn) ve darbe (35 ms), iniş (1500 ms)
- Konum belirlemesi için GPS alıcısı
- 1 s … 24 saat arasında ayarlanabilir veri kaydetme aralığı
- 1/1 oktav band filtresi (opsiyonel 1/3 oktav band filtresi yükseltilebilir)
- ISO Kalibrasyon Sertifikası
İş güvenliği ölçüm cihazı PCE-432, IEC 60651:1979, IEC 60804:2000, IEC 61672-1:2013, ANSI S1.4-1983 and ANSI S1.43-1997 standartlarına uygun Sınıf 1 bir cihazdır. Taşınabilir ve yüksek hassasiyetli cihazın ölçüm verilerinin tam coğrafi konumuna atanmasını sağlayan GPS fonksiyonu bulunur.
- Ölçüm aralığı: 22 … 136 db (A)
- LXY (SPL), Leq (LXeq), LXYSD, LXSEL, LXE, LXYmax, LXYmin, LXPeak, LXN
- Frekans ağırlıklandırması: A, B, C ve Z
- Zaman ağırlıklandırması: Hızlı (125 ms), yavaş (1 sn) ve darbe (35 ms), iniş (1500 ms)
- Konum belirlemesi için GPS alıcısı
- 1 s … 24 saat arasında ayarlanabilir veri kaydetme aralığı
- 1/1 oktav band filtresi (opsiyonel 1/3 oktav band filtresi yükseltilebilir)
- ISO Kalibrasyon Sertifikası