Tahıllar, fasulye, pirinç, fındık, toz, kömür, pas, biyokütle ve toprak gibi malların nem içeriğinin sürekli ölçümü taşınabilir ekipmanlarla veya ambarlarda gerçekleştirilir. Mikrodalgalı tahıl Malzeme nemi Ölçüm Cihazı Minsk’te Aquar Sistem Ltd. tarafından geliştirilmiştir ve sürekli nem ölçümü için birçok tahıl üretimi imkânı sağlanmıştır.
PCE Teknik Cihazları Batı Avrupa, Amerika Birleşik Devletleri, Kanada ve Güney Amerika’da teslimat, değişim, yerinde kurulum, kalibrasyon ve bakım imkanı sunar. Bu nem analizör varsayılan kalibrasyon eğrileri, tahıl, bakliyat ve yağlı tohum gibi ürünlerin nem içeriklerinin sürekli ve otomatik ölçülmesini sağlar. Tahıl kurutma enerji ağırlıklı bir işlev olduğu için, kurutma evresinde yapılan kontroller büyük maliyet tasarrufu sağlar. Çevrimiçi nem analizörü buhar işlemi sırasındaki istihdamda ve tahıl öğütülmesinden önce özelikle bu görev için gayet uygundur. Mikrodalgalı nem sensörü hızlı ve doğru ölçümü mümkünleştirir.

Mikrodalga Malzeme nemi Ölçüm Cihazı ile kesin olarak ölçümü yapılmış ürün ve materyaller buğday, arpa ve çavdar, bisküvi (hayvan yemi), yulaf, mısır, darı, karabuğday, baklagiller, lupin tohumu, kolza, ayçiçeği tohumu taneleri (ölçülebilir meyve alanı sayısı: 25 farklı türler) gibi ürünleri de içerir. Mikrodalgalı nem analizörü sadece devam eden işlem boyunca nem içeriğini ölçmekle kalmaz, aynı zamanda  RS-232, RS 485 veya 4-20 mA gibi çeşitli arayüz seçeneği aracıklarıyla değerlendirme yazılımı, veri kaydediciler, süreç denetleyicileri ve süreç denetim sistemi ile de bağlantı kurabilir. Bu sebeple, mikrodalga nem analizörü eksiksiz ölçümün ve denetim zincirinin bütünleşmiş bir parçası haline gelmiştir. Nem ölçerin işlem prensibi ultra yüksek frekans ve tahıl ve suyun dielektrik özellikleri arasındaki ayrımlar üzerine temelleşmiştir. Nem ölçer tahılların yoğunluğuna doğru oluşan dielektrik kanalına sahip olan merkezde halka rezonatöre sahiptir. Rezonatör parametreleri, elektromanyetik dalgalar, farklı çeşitte nem dalgalarıyla etkileşim haline geçtiklerinde değişirler.  Rezonatörün iki parametrenin de aynı anda ölçümünü alması -rezonans frekansı ve rezonans genlik- ve özel kontrol süreci ile yaptığı kombinasyon sonucunda algoritma nem ölçere belirgin bir avantaj sunar: bağımsız materyal yoğunluğu, yüksek dereceli ölçüm güvenilirliği ve geriye dönük takip elde edilir. Kullanılan materyallerde iletim çok düşük olduğunda ısınma veya deformasyon olmadığı takdirde denenmiş materyal ve sensörlerde hasar oluşmaz.