Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 3000 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Schichtdickenmessgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Messbereich: Fe: 0 … 3000 µm, NFe: 0 … 3000 µm
Genauigkeit nach Folienkalibrierung: ±(1,0 % v. Mw. + 1 µm)
Datenspeicher für 2000 Messwerte
Fe Substraten wie zum Beispiel: Stahl und Eisen
NFe Stubstaten wie zum Beispiel: Aluminium und Kupfer
Das Oberflächenprüfgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 500 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Oberflächenprüfgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Das Oberflächenprüfgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 3000 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Oberflächenprüfgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Messbereich: Fe: 0 … 3000 µm, NFe: 0 … 3000 µm
Genauigkeit nach Folienkalibrierung: ±(1,0 % v. Mw. + 1 µm)
Datenspeicher für 2000 Messwerte
Fe Substraten wie zum Beispiel: Stahl und Eisen
NFe Stubstaten wie zum Beispiel: Aluminium und Kupfer
Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 500 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Schichtdickenmessgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 3000 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Schichtdickenmessgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Messbereich: Fe: 0 … 3000 µm, NFe: 0 … 3000 µm
Genauigkeit nach Folienkalibrierung: ±(1,0 % v. Mw. + 1 µm)
Datenspeicher für 2000 Messwerte
Fe Substraten wie zum Beispiel: Stahl und Eisen
NFe Stubstaten wie zum Beispiel: Aluminium und Kupfer
Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 500 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Schichtdickenmessgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke von zum Beispiel Kunststoffen, Lacken und weiteren Beschichtungen auf eisenhaltigen und nicht eisenhaltigen Metallen zuverlässig bestimmen. Mit einem Messbereich bis zu 3000 µm auf eisenhaltigen Metallen deckt das Schichtdickenmessgerät einen großen Bereich an Messaufgaben ab.
Messbereich: Fe: 0 … 3000 µm, NFe: 0 … 3000 µm
Genauigkeit nach Folienkalibrierung: ±(1,0 % v. Mw. + 1 µm)
Datenspeicher für 2000 Messwerte
Fe Substraten wie zum Beispiel: Stahl und Eisen
NFe Stubstaten wie zum Beispiel: Aluminium und Kupfer
Das Boroskop dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge vom Boroskop besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem Boroskop durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Die Endoskopkamera dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge der Endoskopkamera besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit der Endoskopkamera durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Das Endoskop dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge vom Endoskop besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem Endoskop durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Die Endoskopkamera dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge der Endoskopkamera besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit der Endoskopkamera durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Die Endoskopkamera dient als NDT Prüfgerät der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge der Endoskopkamera besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit der Endoskopkamera durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Das HLK-Messgerät dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge vom HLK-Messgerät besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem HLK-Messgerät durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Das Industrie Endoskop dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge vom Industrie Endoskop besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem Industrie Endoskop durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Die Inspektionskamera dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge der Inspektionskamera besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit der Inspektionskamera durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Das Industrie Endoskop, aus dem Bereich der Optischen Messtechnik, dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge vom Endoskop besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem Endoskop durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Das SHK Messgerät dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge vom SHK Messgerät besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem SHK Messgerät durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.
Das Videoskop dient der Diagnose und Überwachung von schwer zugänglichen Stellen an Maschinen und Anlagen. Durch die Länge des Videoskop besteht die Möglichkeit auch schwer zugängliche Stellen zu erfassen. Dabei wird eine Kameraüberwachung mit dem Videoskop durch den flexiblen Kamerakopf unterstützt.