Defektoskop PCE-USC 30

PCE-USC 30 Defektoskopet bruges til ikke-destruktiv materialetestning. Med defektoskopet kan overfladefejl og defekter tæt på overfladen gøres synlige. Defektoskopet er en elektrisk metode til test af elektrisk ledende materialer. I defektoskopet placeres en vekselspændingspåført sonde på et elektrisk ledende prøvestykke. De magnetiske feltlinjer genereret vinkelret på emnets overflade inducerer cirkulære, overfladenære hvirvelstrømme, hvilket resulterer i sekundære magnetfelter i prøveemnet. De sekundære felter modvirker de primære felter og ændrer dem målbart med hensyn til amplitude og fase. Inhomogeniteter og emnedefekter ændrer hvirvelstrømskurverne og materialets og dermed også sekundære felters permeabilitet. På denne måde kan defekter tæt på overfladen lokaliseres og klassificeres.

Defektoskopet PCE-USC 30 er designet til tilsvarende NDT materialetest og kan også bruges til ledningsevnemåling og lagtykkelse beslutsomhed.

Defektoskopets ergonomiske design, en vægt på mindre end 1 kg, en batterilevetid på cirka 8 timer, et stort udvalg af sonder til at dække et stort frekvensområde op til 3,5 MHz, og software til at lave rapporter er gode forudsætninger for effektivt og behageligt arbejde.

Defektoskopet er derfor ideel til ikke-destruktiv materialetest i luftfartssektoren, til komponenttest af turbine klinger eller boringer, f.eks. til svejsesømprøvning og revneprøvning, til pipeline- og beholderprøvning i kemi- og olie- og gasindustrien eller inden for maskinteknik til kvalitetskontrol af halvfabrikata, Taf el, båndprodukter eller enkelte komponenter. Materialeegenskaber kan også testes ved hjælp af en strukturel sammenligning, så der også kan udføres sammenblandingstest.